格特電子負(fù)載高溫老化房一種專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)的測(cè)試設(shè)備，用于模擬高溫、惡劣環(huán)境條件，并通過(guò)加載一定的負(fù)載或工作條件，使產(chǎn)品在模擬環(huán)境中進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的老化測(cè)試。在高溫環(huán)境下對(duì)電子產(chǎn)品進(jìn)行負(fù)載測(cè)試。
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